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单个二极管

制造商 系列 封装/外壳 包装 产品状态 技术 电压 - 直流反向 (Vr)(最大值) 电压 - 正向 (Vf)(最大值)@ If 速度 反向恢复时间 (trr) 电流 - 反向漏电 @ Vr 电容 @ Vr, F 电流 - 平均整流(Io) 等级 认证 安装类型 供应商设备封装 工作温度 - 结点

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WNSC2D06650TJ

WNSC2D06650TJ

DIODE SIL CARBIDE 650V 6A 5DFN

WeEn Semiconductors

2,024 -
WNSC2D06650TJ

数据表

- 4-VSFN Exposed Pad Tape & Reel (TR) Active SiC (Silicon Carbide) Schottky 650 V 1.7 V @ 6 A No Recovery Time > 500mA (Io) 0 ns 30 µA @ 650 V 198pF @ 1V, 1MHz 6A - - Surface Mount 5-DFN (8x8) 175°C
BYV30JT-600PQ

BYV30JT-600PQ

DIODE GEN PURP 600V 30A TO3P

WeEn Semiconductors

3,840 -
BYV30JT-600PQ

数据表

- TO-3P-3, SC-65-3 Tube Active Standard 600 V 1.8 V @ 30 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 65 ns 10 µA @ 600 V - 30A - - Through Hole TO-3P 175°C (Max)
BYC30X-600P,127

BYC30X-600P,127

DIODE GEN PURP 600V 30A TO220FP

WeEn Semiconductors

9,203 -
BYC30X-600P,127

数据表

- TO-220-2 Full Pack, Isolated Tab Tube Active Standard 600 V 1.8 V @ 30 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 35 ns 10 µA @ 600 V - 30A - - Through Hole TO-220FP 175°C (Max)
WNSC2D03650MBJ

WNSC2D03650MBJ

DIODE SIL CARBIDE 650V 3A SMB

WeEn Semiconductors

5,409 -
WNSC2D03650MBJ

数据表

- DO-214AA, SMB Tape & Reel (TR) Active SiC (Silicon Carbide) Schottky 650 V 1.7 V @ 3 A No Recovery Time > 500mA (Io) 0 ns 20 µA @ 650 V 130pF @ 1V, 1MHz 3A - - Surface Mount SMB 175°C
WNSC6D01650MBJ

WNSC6D01650MBJ

DIODE SIL CARBIDE 650V 1A SMB

WeEn Semiconductors

1,944 -
WNSC6D01650MBJ

数据表

- DO-214AA, SMB Tape & Reel (TR) Active SiC (Silicon Carbide) Schottky 650 V 1.4 V @ 1 A No Recovery Time > 500mA (Io) 0 ns 20 µA @ 650 V 130pF @ 1V, 1MHz 1A - - Surface Mount SMB 175°C
WNSC2D06650DJ

WNSC2D06650DJ

DIODE SIL CARBIDE 650V 6A DPAK

WeEn Semiconductors

11,997 -
WNSC2D06650DJ

数据表

- TO-252-3, DPAK (2 Leads + Tab), SC-63 Tape & Reel (TR) Active SiC (Silicon Carbide) Schottky 650 V 1.7 V @ 6 A No Recovery Time > 500mA (Io) 0 ns 30 µA @ 650 V 198pF @ 1V, 1MHz 6A - - Surface Mount DPAK 175°C
WNSC2D08650Q

WNSC2D08650Q

DIODE SIL CARB 650V 8A TO220AC

WeEn Semiconductors

4,990 -
WNSC2D08650Q

数据表

- TO-220-2 Tube Active SiC (Silicon Carbide) Schottky 650 V 1.7 V @ 8 A No Recovery Time > 500mA (Io) 0 ns 40 µA @ 650 V 260pF @ 1V, 1MHz 8A - - Through Hole TO-220AC 175°C
BYC30WT-600PQ

BYC30WT-600PQ

DIODE GEN PURP 600V 30A TO247-3

WeEn Semiconductors

1,585 -
BYC30WT-600PQ

数据表

- TO-247-3 Tube Active Standard 600 V 2.75 V @ 30 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 22 ns 10 µA @ 600 V - 30A - - Through Hole TO-247-3 175°C (Max)
WB100FC120ALZ

WB100FC120ALZ

WB100FC120AL/NAU000/NO MARK*CHIP

WeEn Semiconductors

4,923 -
WB100FC120ALZ

数据表

- Die Bulk Active Standard 1200 V 3.3 V @ 100 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 90 ns 250 µA @ 1200 V - 100A - - Surface Mount Wafer 175°C
BYC30-600P,127

BYC30-600P,127

DIODE GEN PURP 600V 30A TO220AC

WeEn Semiconductors

7,896 -
BYC30-600P,127

数据表

- TO-220-2 Tube Active Standard 600 V 1.8 V @ 30 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 35 ns 10 µA @ 600 V - 30A - - Through Hole TO-220AC 175°C (Max)
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