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单个二极管

制造商 系列 封装/外壳 包装 产品状态 技术 电压 - 直流反向 (Vr)(最大值) 电压 - 正向 (Vf)(最大值)@ If 速度 反向恢复时间 (trr) 电流 - 反向漏电 @ Vr 电容 @ Vr, F 电流 - 平均整流(Io) 等级 认证 安装类型 供应商设备封装 工作温度 - 结点

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图片 厂商料号 库存情况 价格 数量 数据表 系列 封装/外壳 包装 产品状态 技术 电压 - 直流反向 (Vr)(最大值) 电压 - 正向 (Vf)(最大值)@ If 速度 反向恢复时间 (trr) 电流 - 反向漏电 @ Vr 电容 @ Vr, F 电流 - 平均整流(Io) 等级 认证 安装类型 供应商设备封装 工作温度 - 结点
BYC30JT-600PSQ

BYC30JT-600PSQ

DIODE GEN PURP 600V 30A TO3PF

WeEn Semiconductors

8,727 -
BYC30JT-600PSQ

数据表

- TO-3PFM, SC-93-3 Tube Active Standard 600 V 2.75 V @ 30 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 22 ns 10 µA @ 600 V - 30A - - Through Hole TO-3PF 175°C
WB45SD160ALZ

WB45SD160ALZ

WB45SD160AL/NAU000/NO MARK*CHIPS

WeEn Semiconductors

8,349 -
WB45SD160ALZ

数据表

- Die Bulk Active Standard 1600 V 1.4 V @ 45 A Standard Recovery >500ns, > 200mA (Io) - 50 µA @ 1600 V - 45A - - Surface Mount Wafer 150°C
BYV30JT-600PMQ

BYV30JT-600PMQ

BYV30JT-600PM/TO3PF/STANDARD MAR

WeEn Semiconductors

8,470 -
BYV30JT-600PMQ

数据表

- TO-3P-3, SC-65-3 Bulk Active Standard 600 V 1.8 V @ 30 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 65 ns 10 µA @ 600 V - 30A - - Through Hole TO-3PF 175°C
WB30FV60ALZ

WB30FV60ALZ

WB30FV60AL/NAU000/NO MARK*CHIPS

WeEn Semiconductors

8,081 -
WB30FV60ALZ

数据表

- Die Bulk Active Standard 600 V 1.55 V @ 30 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 65 ns 10 µA @ 600 V - 30A - - Surface Mount Wafer -40°C ~ 175°C
BYC58X-600,127

BYC58X-600,127

DIODE GEN PURP 600V 8A TO220FP

WeEn Semiconductors

2,526 -
BYC58X-600,127

数据表

- TO-220-2 Full Pack, Isolated Tab Tube Active Standard 600 V 3.2 V @ 8 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 12.5 ns 150 µA @ 600 V - 8A - - Through Hole TO-220FP 150°C (Max)
WNSC2D051200D6J

WNSC2D051200D6J

WNSC2D051200D/TO252/REEL 13" Q1

WeEn Semiconductors

4,281 -
WNSC2D051200D6J

数据表

- TO-252-3, DPAK (2 Leads + Tab), SC-63 Tape & Reel (TR) Active SiC (Silicon Carbide) Schottky 1200 V 1.6 V @ 5 A No Recovery Time > 500mA (Io) 0 ns 25 µA @ 1200 V 260pF @ 1V, 1MHz 5A - - Surface Mount DPAK -55°C ~ 175°C
BYC20-600,127

BYC20-600,127

DIODE GEN PURP 500V 20A TO220AC

WeEn Semiconductors

5,624 -
BYC20-600,127

数据表

- TO-220-2 Tube Active Standard 500 V 2.9 V @ 20 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 55 ns 200 µA @ 600 V - 20A - - Through Hole TO-220AC 150°C (Max)
BYC20D-600PQ

BYC20D-600PQ

DIODE GEN PURP 600V 20A TO220AC

WeEn Semiconductors

5,761 -
BYC20D-600PQ

数据表

- TO-220-2 Tube Active Standard 600 V 2.9 V @ 20 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 20 ns 10 µA @ 600 V - 20A - - Through Hole TO-220AC 175°C (Max)
WNB199V5APTSV

WNB199V5APTSV

WNB199V5APTS/NAU000/NO MARK*CHIP

WeEn Semiconductors

2,990 -
WNB199V5APTSV

数据表

- Die Bulk Active Standard 600 V 2 V @ 60 A Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) 55 ns 10 µA @ 600 V - 60A - - Surface Mount Wafer 175°C
WNSC6D04650Q

WNSC6D04650Q

DIODE SIL CARB 650V 4A TO220AC

WeEn Semiconductors

9,581 -
WNSC6D04650Q

数据表

- TO-220-2 Tube Active SiC (Silicon Carbide) Schottky 650 V 1.4 V @ 4 A No Recovery Time > 500mA (Io) 0 ns 30 µA @ 650 V 233pF @ 1V, 1MHz 4A - - Through Hole TO-220AC 175°C
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